Working with Simulation Results

필요한 분석이 구성되고 실행되면 분석 결과가 프로젝트 자체의 이름을 딴 SDF(시뮬레이션 데이터 파일)에 기록되고(.sdf)로 명명되고 Projects 패널에 표시됩니다 Generated\Simulation Documents 폴더 아래에 나타납니다. 파일은 자동으로 문서 탭으로 열리며 SimData 에디터에 표시됩니다. 이 풍부한 기능을 갖춘 환경을 통해 시뮬레이션 결과를 빠르고 효율적으로 분석할 수 있으므로 설계의 작동을 평가하고 디버그하며 궁극적으로 확신을 가질 수 있습니다. 이 파일은 생성되더라도 처음에는 저장되지 않습니다.

시뮬레이션 결과 목록으로 작업하기

수행된 시뮬레이션 실행은 Results region Simulation Dashboard 패널에 표시됩니다. 특정 결과 항목의 오른쪽에 있는 버튼은 다음과 같은 작업을 제공합니다:

  • Show Results - 해당 실행의 결과를 다시 엽니다. 결과 이름을 두 번 클릭하여 다시 열 수도 있습니다.
  • Load Profile - 해당 실행의 분석 설정을 복원하려면 해당 실행의 해당 Region에서 Simulation Dashboard 패널의 Analysis Setup & Run region.
  • Edit Title - 결과 항목의 이름을 바꿉니다. 기본적으로 결과의 이름은 분석의 이름을 따서 지정됩니다.
  • Edit Description - 결과 항목의 설명을 수정합니다. 기본적으로 설명은 실행의 주요 파라미터를 반영합니다. 설명 필드를 클릭하여 편집할 수도 있습니다.
  • Delete - 결과 항목을 삭제합니다.

결과 항목의 Results region Simulation Dashboard 패널을 사용하여 시뮬레이션 결과를 관리합니다.
결과 항목의 Results region Simulation Dashboard 패널을 사용하여 시뮬레이션 결과를 관리합니다.

또한 시뮬레이션 결과 항목과 연결된 잠금 아이콘(/)을 토글하여 해당 실행의 결과를 보존할 수 있으며, 이 경우 해당 유형의 후속 분석 실행의 이름이 증분된 숫자 접미사로 변경됩니다. 시뮬레이션 결과 잠금을 사용하면 동일한 분석 유형의 여러 실행 결과를 누적할 수 있습니다.

차트, 플롯 및 파형

시뮬레이션 데이터 파일은 기본적으로 세 가지 구성 요소로 나눌 수 있습니다:

  • 차트
  • 플롯
  • 파형

차트는 SDF 파일에서 '페이지'로 생각할 수 있습니다. SDF 파일에는 여러 개의 차트가 포함될 수 있으며, 각 차트의 내용은 수행 중인 분석 유형에 따라 달라집니다. 플롯은 데이터를 그래픽으로 표시하는 데 사용되는 영역으로 하나 이상의 파형을 표시하는 데 사용할 수 있습니다. 차트에는 여러 개의 플롯이 포함될 수 있습니다. 파형은 설계의 특정 지점이나 노드에서 수집한 분석 데이터를 나타냅니다.

시뮬레이션 결과의 다양한 요소 이해하기
시뮬레이션 결과의 다양한 요소 이해하기

시뮬레이션을 실행할 때 각 분석 유형에 대해 별도의 차트가 생성됩니다. 분석 유형에 대한 차트는 설계 공간 하단에 있는 해당 이름의 탭을 클릭하여 액세스할 수 있습니다. 분석 결과의 여러 차트를 빠르게 넘기려면 +- 키를 사용하여 여러 분석 결과 차트를 빠르게 넘길 수 있습니다.

시뮬레이션 분석 결과에 액세스하기. 해당 탭을 클릭하면 해당 분석 유형에 대한 결과를 볼 수 있습니다.
시뮬레이션 분석 결과에 액세스하기. 해당 탭을 클릭하면 해당 분석 유형에 대한 결과를 볼 수 있습니다.

파형 데이터를 생성하는 분석의 경우 차트에 포함된 플롯 수는 분석 유형, Schematic에 추가된 프로브 및 분석 유형을 구성할 때 추가된 출력 표현식에 따라 달라집니다.

특정 시뮬레이션 분석 유형에 대해 생성된 차트에는 플롯 및/또는 파형이 포함되지 않습니다. 예를 들어, 작동점 분석용 차트에는 텍스트 데이터가 표시됩니다. 극-제로 분석용 차트에는 싱글 플롯이 포함되지만 일반적인 '아날로그 파형' 의미의 파형이 아닌 그래픽 극(X) 및 0(0) 항목이 포함됩니다.

SimData 에디터에서 작업하기 위한 빠른 팁:

  • 파형 이름을 길게 클릭한 다음 다른 플롯으로 드래그하여 파형을 한 플롯에서 다른 플롯으로 이동할 수 있습니다.
  • 기존 파형을 별도의 새 플롯에 표시하려면 이름을 두 번 클릭한 다음 플롯에서 New Plot 을 선택한 다음 Plot Number 드롭다운에서 Edit Waveform 대화상자에서 선택합니다.
  • 확대하여 플롯의 영역을 검토하려면 사각형을 마우스 왼쪽 버튼으로 클릭하고 끌어서 새 보기 영역을 정의합니다. 뷰를 복원하려면 마우스 오른쪽 단추를 클릭하고 Fit Document.
  • 플롯 내 아무 곳이나 두 번 클릭하여 플롯을 구성할 수 있는 Plot Options 대화 상자가 열리며, 여기서 제목, Grid Lines 및 선 스타일을 구성할 수 있습니다.
  • 축을 두 번 클릭하여 레이블을 지정하고 해당 축을 구성합니다.
  • 차트 제목을 두 번 클릭하여 차트 이름을 지정할 수 있는 Chart Options 대화 상자를 열어 차트 이름을 지정하고 현재 커서가 활성화되어 있는 경우 해당 플롯에 표시되는 커서 측정값을 구성할 수도 있습니다.
  • 메뉴에서 Tools » Document Options 을 선택하여 Document Options 대화 상자에서 색상, 다양한 파형, 차트 및 그림 요소(데이터 포인트 포함)의 가시성을 구성하고 FFT 길이를 정의할 수 있습니다.

파형 선택

설계 공간에서 파형을 선택하려면 파형의 이름을 클릭하면 됩니다. 파형을 선택하면 파형의 색상이 더 굵어지고 이름 왼쪽에 점이 표시됩니다. 파형의 이름을 범위로 사용하여 필터링이 적용됩니다. 활성 차트에서 다른 이름을 가진 다른 모든 파형은 마스킹됩니다(흐리게 표시됨).

  • 활성 차트에 같은 이름의 파형이 두 개 이상 있는 경우 선택되지 않은 인스턴스는 전체 표시 상태로 유지됩니다.
  • 단축키를 사용하여 여러 파형을 선택하려면 Shift+Click 단축키를 사용하여 여러 파형을 선택합니다. 파형이 밀집된 플롯에서 일부 파형을 비교할 때 유용할 수 있습니다.

마스킹의 범위는 슬라이더 바를 사용하여 제어할 수 있습니다 Mask Level 슬라이더 막대를 사용하여 마스킹 범위를 제어할 수 있습니다 Mask Level 버튼을 클릭하여 액세스할 수 있습니다.

파형 이름을 클릭하여 파형을 선택하고 오른쪽 하단의 버튼과 슬라이더를 사용하여 마스크 수준을 설정합니다.
파형 이름을 클릭하여 파형을 선택하고 오른쪽 하단의 버튼과 슬라이더를 사용하여 마스크 수준을 설정합니다.

필터링을 지우고 모든 플롯의 전체 표시로 돌아가려면 오른쪽 하단에 있는 Clear 버튼을 클릭하거나 설계 공간의 오른쪽 하단에 있는 Wave » Clear Filter 명령(바로가기( Esc, Shift+C). 적용된 필터의 범위를 기준으로 이전에 선택한 파형이 선택 해제됩니다.

플롯에 상당한 수의 파형이 포함된 경우 플롯에 스크롤 기능이 포함됩니다. 사용 가능한 버튼을 클릭하면 플롯에 포함된 모든 파형 이름을 스크롤할 수 있습니다.

멀티패스 결과 표시

온도 스윕, 파라미터 스윕몬테카를로 분석은 기본 분석 유형(예: AC 스윕, 과도 등)의 여러 패스를 수행하여 각 패스마다 하나 이상의 회로 파라미터를 변경하는 시뮬레이션 기능입니다. 결과가 SimData 편집기 내에 표시되면 연결된 플롯에 여러 패스에 대한 파형이 포함되며 각 패스는 파형 이름 뒤에 문자와 숫자를 추가하여 식별합니다(예, v(Output) p1, v(Output) p2등). 문자는 다중 패스 분석의 유형을 나타내는 데 사용됩니다:

  • t - 온도 스윕
  • p - 파라미터 스윕
  • m - 몬테카를로

숫자는 실제 패스를 의미합니다.

파라미터 스윕 분석의 결과 예시
파라미터 스윕 분석의 결과 예시

파형 이름을 클릭하면 해당 특정 패스에 사용된 파라미터에 대한 정보가 플롯 아래 및 상태 표시줄에 표시됩니다. 또한 동일한 파라미터 값에 해당하는 다른 파형이 강조 표시됩니다 Highlight Similar Waves 옵션이 활성화된 경우 Document Options 대화 상자(Tools » Document Options).

특정 패스에 대한 파형을 클릭하면 해당 파라미터가 표시되고 동일한 패스와 관련된 다른 파형이 강조 표시됩니다.
특정 패스에 대한 파형을 클릭하면 해당 파라미터가 표시되고 동일한 패스와 관련된 다른 파형이 강조 표시됩니다.

표시되는 플롯 수 제어하기

분석 결과가 SDF 파일에 처음 기록되면 기본적으로 분석 결과의 플롯 수에 따라 한 번에 하나에서 네 개의 플롯을 표시하는 최적의 방식으로 표시됩니다. 예를 들어, 3개의 플롯이 있는 경우 차트는 3개의 플롯을 모두 표시하도록 자동으로 구성됩니다. 플롯이 6개인 경우 한 번에 4개의 플롯을 표시하도록 차트가 자동으로 구성되는 식입니다. '표시되는' 플롯 수를 변경하려면 차트에서 Number of Plots Visible 옵션을 구성하여 표시할 플롯 수를 변경할 수 있습니다 Document Options 대화 상자에서 옵션을 구성하여 '표시되는' 플롯 수를 변경할 수 있습니다 Tools » Document Options 을 선택하여 옵션을 구성할 수 있습니다.

대화 상자에서 정의한 설정은 Document Options 대화 상자에서 정의한 설정은 활성 차트에만 적용하거나, 현재 SDF 파일의 모든 차트에 적용하거나, 기본 옵션으로 저장하여 이후에 생성되는 모든 차트에 적용할 수 있습니다. 대화 상자의 왼쪽 하단에 있는 드롭다운을 사용하여 원하는 옵션을 선택합니다.

필수 Number of Plots Visible 를 선택합니다 Document Options 대화 상자에서 필요한 것을 선택합니다.
필수 Number of Plots Visible 를 선택합니다 Document Options 대화 상자에서 필요한 것을 선택합니다.

표시되는 플롯 수를 All로 설정하면 일반적으로 설계 공간 내에서 모든 플롯을 한 번에 볼 수 있습니다(물론 분석 결과의 플롯 수에 따라 달라질 수 있음). 이는 '초안 모드'로 간주되며 생성된 파형의 빠른 개요를 제공합니다.

파형을 더 자세히 분석하려면 모든 플롯을 보는 것에서 특정 수의 플롯으로 이동해야 합니다. 설계 공간에서 한 번에 표시되는 플롯의 수가 적을수록 특정 파형에 집중하여 측정하기가 더 쉬워집니다. 크기 조정 기능(X축 및/또는 Y축), Y축 추가 및 플롯 레이블 지정 기능을 활용하려면 Number of Plots Visible 옵션을 All.

플롯 및 파형 재정렬

클릭하고 드래그하여 차트에서 플롯이 표시되는 순서를 변경할 수 있습니다. 먼저, 이동하려는 플롯이 설계 공간에서 활성화되어 있는지 확인합니다. 가 Number of Plots VisibleAll로 설정된 경우 활성 플롯은 파형 이름 섹션 주위에 실선으로 구분되며, 를 Number of Plots Visible 가 로 설정된 경우 2, 3또는 4로 설정된 경우 활성 플롯은 표시 영역의 왼쪽에 화살표로 구분됩니다. 그런 다음 파형 이름 영역 안쪽(이름 자체에서 떨어진 곳)을 클릭하고 필요에 따라 위 또는 아래로 드래그합니다. 마우스 버튼에서 손을 떼면 이동 중인 플롯이 어느 플롯 아래에 위치할지 나타내는 선이 나타납니다.

플롯을 이동할 수 있는 것처럼 파형 자체도 플롯 간에 이동할 수 있습니다. 파형 이름을 클릭하고 필요한 대상 플롯으로 드래그합니다. 수신자 플롯의 Y축 상단에 화살표가 나타납니다. 이동은 표시된 플롯 수에 관계없이 수행할 수 있습니다.

파형 이름을 두 번 클릭한 다음 새 플롯으로 이동하려면 파형 이름에서 New Plot 을 선택하여 새 플롯으로 이동할 수도 있습니다 Plot Number 드롭다운에서 Edit Waveform 대화 상자의 드롭다운에서 선택합니다. 이 작업을 수행한 후 표시되는 플롯의 수를 변경해야 할 수 있으며, 이 작업은 Document Options 대화 상자(Tools » Document Options).

대화 상자를 사용하여 파형을 새 플롯으로 이동합니다 Edit Waveform 대화 상자를 사용합니다.
대화 상자를 사용하여 파형을 새 플롯으로 이동합니다 Edit Waveform 대화 상자를 사용합니다.

아래 동영상은 플롯과 파형을 재배치하는 과정을 보여줍니다.

플롯 및 파형 재배치 기법 데모입니다.

  • 선택한 여러 파형(( Shift+Click 단축키를 사용하여 선택한 여러 파형을 드래그 앤 드롭으로 다른 플롯으로 이동할 수도 있습니다.
  • 파형을 더 잘 '맞추기' 위해 이동 후 Y축을 조정해야 할 수도 있습니다. 대상 파형이 타겟 플롯의 파형보다 진폭이 큰 경우 특히 그렇습니다. 플롯 축 조정에 대한 자세한 내용은 축 변경하기 섹션을 참조하세요.

데이터 확대하기

활성 플롯의 배율을 변경하여 파형 데이터를 분석할 때 확대 또는 축소할 수 있습니다. 전용 확대 Zoom In축소 명령을 사용하여 View 를 사용하여 각각 확대 또는 축소합니다. 또는 관심 지점에 대한 선택 사각형을 클릭하고 끌어서 해당 지점을 확대(확대)할 수 있습니다.

한 플롯에서 데이터의 배율을 변경하면 다른 플롯은 변경되지 않습니다. 확대/축소하려면 Zoom Plots Separately 옵션을 비활성화합니다 Document Options 대화 상자에서 옵션을 비활성화하면 한 플롯에서 데이터의 배율을 변경할 때 모든 플롯에 동일한 수준의 배율을 적용할 수 있습니다.

  • 마우스 포인터 위치를 기준으로 확대/축소하려면 Zoom In축소 명령을 사용하여 마우스 포인터 위치를 기준으로 확대하려면 키보드 단축키 - PgUpPgDn 를 입력합니다.
  • 키보드 단축키를 사용하여 Z 키보드 단축키를 사용하여 확대/축소 명령의 팝업 메뉴에 액세스합니다:
    • Zoom All - 현재 차트에 있는 모든 파형을 전체로 확대합니다.
    • Zoom In - 활성 차트에서 연결된 각 파형 플롯의 중앙 위치를 기준으로 파형을 더 가까이 가져옵니다(확대).
    • Zoom Out - 차트에서 연결된 각 파동 플롯의 중앙 위치를 기준으로 파형을 사용자로부터 멀어지게(축소) 합니다.

파형의 초기 표시(확대되지 않은 상태)로 돌아가려면 기본 차트에서 Fit Document 명령을 실행하거나 View 메뉴 또는 설계 공간의 오른쪽 클릭 메뉴(바로 가기: Ctrl+PgDn).

아래 동영상은 시뮬레이션 결과 데이터를 확대하는 과정을 보여줍니다.

데이터 확대 기법 데모.

플롯에 여러 개의 Y축 정의하기

단일 Y축이 작동하지 않는 경우가 있을 수 있습니다. 예를 들어 공통 플롯에서 전류와 전압 신호를 대조하고 싶을 수 있습니다. 전압 신호는 5V까지 올라가는 반면, 전류 신호는 밀리암페어 또는 마이크로암페어 정도일 수 있습니다. 파형을 '읽을 수 있게' 만들기 위해 SimData 에디터는 추가 Y축을 사용할 수 있는 기능을 제공합니다.

아래 이미지에 표시된 파형을 생각해 보세요. 하나는 입력 전압을, 다른 하나는 저항을 통한 전류를 보여줍니다. 이제 전류 파형을 전압 파형과 동일한 플롯으로 이동하면 플롯의 기존 Y축을 사용하여 스케일링할 때 기본적으로 전류 파형이 손실되는 것을 볼 수 있습니다. 더 나은 접근 방식은 새로운 Y축을 정의하여 아래와 같은 결과를 얻는 것입니다.

다음 중 한 가지 방법으로 전류 파형에 새 Y축을 추가할 수 있습니다:

  • 이름을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 Edit Wave을 선택하고 나타나는 Edit Waveform 대화 상자가 나타나면 New Axis 드롭다운에서 Axis Number 드롭다운에서 선택합니다.


    대화 상자를 사용하여 파형의 새 Y축을 설정합니다 Edit Waveform 대화상자를 사용합니다.
  • 새 Y축을 추가(Plot » Add Y Axis)을 추가한 다음 현재 파형을 축으로 끌어 연관을 만듭니다.

파형의 새(자동 배율 조정된) Y축이 기존 Y축의 왼쪽에 추가됩니다. 그 결과 싱글 플롯에서 파형을 쉽게 읽을 수 있습니다.

여러 개의 Y축이 정의된 플롯에서 Y축을 제거하려면 해당 축을 클릭하여 선택한 다음 Plot » Remove Y Axis 명령을 실행합니다. 또는 축을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 상황에 맞는 메뉴에서 Delete Axis 을 선택합니다.

Y축을 삭제하면 해당 축에 연결된 파형도 삭제됩니다. 물론, 파형은 언제든지 플롯에 다시 추가할 수 있습니다 Source Data region Sim Data 패널의 영역에서 언제든지 다시 플롯에 추가할 수 있습니다. 그러나 파형을 제거하지 않고 축을 제거하려면 축에서 파형의 연결을 해제해야 합니다. 파형의 이름을 클릭하고 남아있을 Y축으로 드래그합니다. 그런 다음 중복된 Y축을 안전하게 제거할 수 있습니다.

데이터 포인트 표시

파형의 정확도가 확실하지 않은 경우(예: 파형이 매끄러운 곡선이 아닌 날카롭고 들쭉날쭉해 보이는 경우) 데이터 포인트 표시를 활성화하여 결과가 충분히 자주 계산되었는지 확인할 수 있습니다.

이러한 포인트를 표시하려면 Show Data Points 옵션을 활성화합니다 Document Options 대화 상자에서 옵션을 활성화합니다. 데이터가 계산된 파동을 따라 각 지점에 작은 원이 표시됩니다.

파형의 정확도를 시각화하려면 Show Data Points 옵션을 사용하여 파형의 정확도를 시각화합니다.
파형의 정확도를 시각화하려면 Show Data Points 옵션을 사용하여 파형의 정확도를 시각화합니다.

자세한 내용은 시뮬레이션 구성 및 실행 - 정확도와 성능 간의 균형 찾기 페이지를 참조하세요.

빠른 푸리에 변환

빠른 푸리에 변환을 사용하여 Chart » Create FFT Chart 명령을 사용하면 활성 차트에서 각 파형에 대해 빠른 푸리에 변환을 빠르게 수행할 수 있습니다. 결과는 새 차트에 저장되어 표시되며, 이 차트는 다음 형식을 사용하여 이름이 지정됩니다 _FFT 형식을 사용하여 이름이 지정된 새 차트에 저장되고 표시되며 SDF 파일의 기존 차트 오른쪽에 추가됩니다.

차트에서 FFT LengthDocument Options 대화 상자(Tools » Document Options). 기본적으로 길이는 128입니다.

명령을 사용하여 Create FFT Chart 명령을 사용하여 고속 푸리에 변환을 수행합니다.
명령을 사용하여 Create FFT Chart 명령을 사용하여 고속 푸리에 변환을 수행합니다.

차트, 플롯 및 파형 관리를 위한 기타 기능

차트, 플롯 및 파형 관리를 위한 다른 기능에 대해 알아보려면 아래 섹션을 참조하세요.

텍스트 데이터로 작업하기

작동점전달 함수 분석 유형에 대해 생성된 차트에는 플롯 및/또는 파형이 포함되지 않으며 이러한 차트에는 텍스트 데이터가 표시됩니다. 이 경우 '파형'은 계산된 단일 값을 나타냅니다. 차트에 필요한 값을 추가하려면 차트에서 해당 항목을 선택하여 Source Data 목록에서 해당 항목을 선택하고 Sim Data 패널의 목록에서 해당 항목을 선택하고 Add Wave to Plot 버튼을 클릭합니다.

과도 함수 분석의 계산된 값을 추가하는 예시입니다.
과도 함수 분석의 계산된 값을 추가하는 예시입니다.

텍스트 정보는 주 메뉴의 명령어를 사용하여 클립보드에 복사할 수 있습니다 Tools » Copy to Clipboard as Text 명령을 사용하여 텍스트 정보를 클립보드에 복사할 수 있습니다.

디지털 플롯으로 작업하기

디지털 플롯은 디지털 노드의 논리적 레벨을 나타냅니다: 0 또는 1입니다. 디지털 플롯의 예는 아래와 같습니다.

디지털 플롯의 예
디지털 플롯의 예

디지털 파형은 각각 두 줄 및 세 줄 파형 섹션을 사용하여 정의되지 않은 상태와 높은 임피던스 상태를 표시할 수도 있습니다.

디지털 플롯에 표시된 정의되지 않음(첫 번째 이미지) 및 고임피던스(두 번째 이미지) 상태.
디지털 플롯에 표시된 정의되지 않음(첫 번째 이미지) 및 고임피던스(두 번째 이미지) 상태.

측정 커서는 정의되지 않은 상태와 높은 임피던스 상태를 각각 'X' 및 'Z'로 표시합니다.

측정 커서로 정의되지 않은 상태와 높은 임피던스 상태를 표시합니다.

측정 커서로 정의되지 않은 상태와 높은 임피던스 상태를 표시합니다.

  • 디지털 플롯에는 디지털 파에 대한 디지털 레벨만 표시되므로 Y축이 없습니다. 또한 디지털과 아날로그 파는 단일 플롯에서 혼합할 수 없습니다.
  • 디지털 파동에는 부울 함수를 적용할 수 있습니다. 결과 파동은 여전히 디지털 파동으로, 즉 디지털 플롯에 표시됩니다. 다른 연산은 결과 파동을 아날로그 파동으로 변환합니다.

측정 결과 작업하기

측정 결과 데이터는 측정 결과의 Measurements 탭에 표시됩니다 Sim Data 패널의 탭에 표시됩니다.

시뮬레이션 측정 결과를 분석하는 데 도움이 되는 여러 가지 기능이 있습니다. 기능은 다음과 같습니다:

  • 측정값을 선택하고 Show on chart 버튼을 클릭하면 측정값이 계산된 Region을 강조하는 측정 커서가 플롯에 표시됩니다. 커서 기반 측정에 대해 자세히 알아보세요.

    측정값을 시각화하려면 Show on chart 버튼을 사용하여 측정값을 시각화합니다.
    측정값을 시각화하려면 Show on chart 버튼을 사용하여 측정값을 시각화합니다.

  • 버튼을 클릭하여 Add 버튼을 클릭하여 새 파형 및 측정값을 정의할 수 있는 Add Waves to Plot 대화 상자에 액세스하여 새 파형과 이에 대한 측정값을 정의할 수 있습니다.
  • 버튼을 클릭하면 기존 파형과 현재 정의된 측정을 편집할 수 있는 Edit Waveform 패널로 돌아갈 필요 없이 기존 파형과 현재 정의된 측정값을 편집할 수 있는 대화 상자에 액세스합니다 Simulation Dashboard 패널로 돌아갈 필요가 없습니다.

시뮬레이션 결과 문서에 분석의 여러 패스에 대한 파형이 포함된 경우(예: 온도 스윕 또는 몬테카를로 분석 수행 시) 각 파형에 대한 측정값이 있습니다. 이 경우 측정값 표가 시뮬레이션 결과 문서의 Measurements 탭에 측정값 표가 표시되며 Sim Data 패널의 탭에 표시되며 다음 기능에 액세스할 수 있습니다:

  • 측정 통계가 자동으로 계산되어 패널의 아래쪽 영역에 표시됩니다 Sim Data 패널의 하단 영역에 표시됩니다.

  • 측정 결과의 전체 표는 패널의 Expand the table 컨트롤을 클릭하면 Sim Data 패널에서 컨트롤을 클릭하면 됩니다. 표는 Measurement Table 차트에 표시됩니다. 표의 데이터를 선택하여 복사할 수 있습니다(예: 스프레드시트에 Paste).

  • 버튼을 사용하여 플롯을 생성합니다 Plot 버튼을 사용하여 플롯을 생성합니다. 예를 들어, 매개변수 스윕을 수행한 경우 스윕된 파라미터에 대한 측정값의 플롯을 만들 수 있습니다. 플롯이 차트에 추가됩니다 Measurement Plot 차트에 추가됩니다.

  • 버튼을 사용하여 히스토그램을 생성하여 데이터의 분포를 시각화합니다 Histogram 버튼을 사용하여 히스토그램을 생성하여 데이터 분포를 시각화합니다. 히스토그램이 차트에 추가됩니다 Measurement Histogram 차트에 추가됩니다.

직접 측정하기

SimData Editor는 설계 공간 내에서 직접 측정 정보를 얻을 수 있는 기능을 제공합니다. 선택한 파형에 대한 기본 측정값이 자동으로 표시됩니다. 보다 정밀한 측정을 원할 경우 전용 측정 커서를 사용하여 보다 대화형 방식으로 측정할 수 있습니다.

선택한 파형에 대한 측정

선택한 파형에 대한 일반 측정값은 파형의 Waveform Measurements region Sim Data 패널에 표시됩니다.

선택한 파형에 대한 일반 측정값입니다.
선택한 파형에 대한 일반 측정값입니다.

데이터는 파형 자체에서 계산되며 측정 커서는 어떤 방식으로도 포함되지 않습니다. 다음 데이터가 계산됩니다:

Rise Time 상위 라인과 기준 라인 값의 차이의 10%에서 90%까지 신호가 변화하는 데 걸린 시간. 측정 데이터는 선택한 신호가 전력 기반(혼합 신호 시뮬레이션)이거나 신호 무결성 분석의 결과 파형인 경우에만 사용할 수 있습니다.
Fall Time 신호가 Top Line과 기준선 값의 차이의 90%에서 10%로 변화하는 데 걸리는 시간입니다. 측정 데이터는 선택한 신호가 전력 기반(혼합 신호 시뮬레이션)이거나 신호 무결성 분석의 결과 파형인 경우에만 사용할 수 있습니다.
Min 파형이 도달한 최소값입니다. 이 지점이 발생하는 X축 값도 표시됩니다.
Max 파형이 도달한 최대값입니다. 이 지점이 발생하는 X축 값도 표시됩니다.
Base Line 신호 파형의 낮은 레벨에 대한 정상 상태 값입니다. 이 값은 이 기준선 값(언더슈트)에 대해 신호의 링잉이 발생하는 신호 무결성 기반 분석 파형의 경우 그래픽으로 가장 눈에 띄게 나타납니다.
Top Line 신호 파형의 높은 레벨에 대한 정상 상태 값입니다. 이 값은 신호 무결성 기반 분석 파형에서 이 최상위 라인 값(오버슈트)에 대해 신호의 링잉이 발생하는 경우 그래픽으로 가장 눈에 띄게 나타납니다.

커서 기반 측정

SimData Editor의 전용 측정 커서를 사용하여 정밀한 데이터 측정을 수행할 수 있습니다. 설계 공간에서 동일하거나 다른 파형에 커서를 추가할 수 있는 두 개의 커서(커서 A와 커서 B)를 사용할 수 있습니다.

커서(A 또는 B)는 활성 차트에서 한 번만 사용할 수 있습니다. 파형에 커서를 할당하도록 선택했는데 다른 파형이 이미 해당 커서를 사용하고 있는 경우 커서가 새 파형에 다시 할당됩니다.

측정 커서 추가는 두 가지 방법 중 하나로 할 수 있습니다:

  • 파형을 선택하고 Wave » Cursor A 또는 Wave » Cursor B 명령.
  • 파형의 이름을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 컨텍스트 메뉴에서 커서 A 또는 커서 B를 선택합니다.

추가된 커서는 파형이 있는 플롯의 상단에 탭으로 표시되며, 커서가 할당된 파형과 같은 색으로 표시됩니다. 십자선이 파형과 교차하여 플롯 내에 나타납니다. 탭을 클릭하고 드래그하여 커서를 이동합니다.

커서의 교차점 및 탭
커서의 교차점 및 탭

플롯 영역 위로 마우스 포인터를 이동하면 상태 표시줄의 맨 왼쪽에 XY 값 쌍이 표시됩니다.

측정 데이터는 Measurement Cursors region Sim Data 패널에 표시됩니다. 설계 공간 내에서 측정 데이터 표시를 활성화할 수도 있습니다. 이 작업은 디자인 공간의 Cursors 탭의 Chart Options 대화 상자(Chart » Chart Options).

대화 상자의 Cursors 탭의 Chart Options 대화 상자
대화 상자의 Cursors 탭의 Chart Options 대화 상자

커서 측정의 사용 가능 여부는 설계 공간과 패널의 Sim Data 패널에서 커서 측정의 가용성은 측정 커서가 할당된 방식에 따라 달라집니다:

  • 단일 커서를 사용하는 경우 커서 교차점의 XY 값만 읽을 수 있습니다.

  • 두 개의 커서를 추가한 경우 서로 다른 파형에 대해 측정할 수 있습니다:

    • XY 값

    • B-A

  • 두 커서가 동일한 파형에 추가된 경우 측정할 수 있습니다:

    • XY 값

    • B-A

    • 최소 A..B

    • 최대 A..B

    • 평균 A..B

    • AC RMS A..B

    • RMS A..B

    • 주파수 A..B

탭을 클릭하여 커서를 선택하면 커서에서 작동하는 기본 메뉴의 다양한 명령어에 액세스할 수 있습니다 Wave 메뉴에서 커서에서 작동하는 다양한 명령에 액세스할 수 있습니다. 파형의 최대 또는 최소 지점으로 이동하거나 다음/이전 피크/저점으로 빠르게 이동할 수 있습니다.

커서를 제거하려면 Wave » Cursor A 또는 Wave » Cursor B 명령을 사용하거나 커서 탭을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 상황에 맞는 메뉴에서 Cursor Off 명령을 선택합니다.

Schematic으로 교차 프로빙하기

SimData 에디터는 선택한 파형에서 해당 파형의 결과가 캡처된 회로의 해당 분석 노드로 교차 프로브하는 기능을 제공합니다.

이 기능을 사용하려면 설계 공간에서 파형의 이름을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 나타나는 팝업 메뉴에서 Cross Probe to Schematic 을 선택합니다. 소스 회로도 문서가 활성화되고 해당 노드가 강조 표시됩니다 Highlight Methods 대화 상자의 시스템 - 탐색 페이지에 정의된 Preferences 대화 상자의

회로도 회로 분석을 통해 데이터가 캡처된 파형에서만 교차 프로브할 수 있습니다. 소스 파형에 수학적 표현식을 적용하여 편집했거나 새 파형을 만든 경우에는 교차 프로브할 수 없습니다.
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