Signal 무결성 분석 결과 활용하기

설정 및 실행된 신호 무결성 분석에 대해 생성된 SDF 문서는 분석 대상으로 선택한 Net에 해당하는 하나 이상의 탭으로 구성됩니다. 각 탭에는 여러 파형 플롯을 포함할 수 있는 차트가 있습니다. 하나의 파형 플롯에는 여러 파형이 포함될 수 있으며, 각 파형은 시뮬레이션 데이터를 나타냅니다.

신호 무결성 분석 결과 확인. 하단의 탭을 클릭하면 각 분석 유형의 결과를 확인할 수 있습니다.

반사 분석 데이터

선택한 각 Net에 대해 시뮬레이션 결과로 차트가 생성되며, SDF 문서의 해당 탭에는 Net 이름이 표시됩니다. 차트에는 모든 종단 옵션에 대한 파형이 포함됩니다.

반사 분석 차트에 표시되는 데이터는 다음에 따라 달라집니다.

• 테스트 대상 Net의 핀 수
• 활성화된 특정 종단 유형(Signal Integrity Panel에서 설정)
• 분석에 (가상) 종단 컴포넌트 값의 스윕을 포함하는지 여부(이 역시 Signal Integrity Panel에서 활성화하고 정의)

종단 컴포넌트 없이 반사 분석을 실행하면 차트에는 테스트 대상 Net의 각 핀에 대한 플롯이 하나씩 포함됩니다. 각 플롯에는 종단을 사용하지 않은 해당 핀의 분석 결과에 해당하는 파형이 하나 포함됩니다. 예를 들어 다음 핀을 포함하는 RTSB Net의 반사 분석을 살펴보겠습니다.

• U1 핀 12
• U3 핀 4
• U3 핀 5

활성화된 종단이 없으면 이 Net에 대해 다음과 같은 차트(플롯 및 파형)가 생성되어 표시됩니다. 파형 이름은 Net 이름, 해당 핀 및 종단 유형(이 경우 종단 없음)을 기준으로 생성됩니다.

반사 결과 – 종단 없음

값 스윕을 활성화하지 않고 특정 종단 유형을 활성화하면, 각 종단을 사용하여 얻은 결과를 나타내는 파형이 각 플롯에 추가됩니다. 아래 이미지는 이를 명확히 보여주기 위해 모든 종단 유형이 활성화된 경우를 나타냅니다.

반사 결과 – 종단 활성화(스윕 없음)

종단과 종단 값 스윕을 모두 활성화하면(스윕 단계가 둘 이상인 경우), 테스트 대상 Net의 각 핀과 활성화된 각 종단에 대한 플롯이 생성됩니다. 각 플롯에는 해당 종단의 각 스윕 단계에 대한 파형과 비교를 위한 종단 없는 파형이 표시됩니다. 아래 이미지는 예제 RTSB Net에 대해 두 가지 종단 유형(Serial Res 및 Parallel Res to VCC)을 활성화하고, Sweep Steps를 2로 설정하여 스윕 기능을 활성화한 경우의 표시 예입니다.

반사 결과 – 종단 및 스윕 활성화.

누화 분석 데이터

누화 분석에서는 모든 Net이 Crosstalk Analysis이라는 이름의 차트에 표시됩니다. 누화 분석 차트의 데이터 표시 방식은 기본적으로 반사 분석 차트와 동일합니다. 유일한 차이점은 이 분석 유형에는 차트가 하나뿐이므로, 분석에 포함된 각 Net의 각 핀에 대한 플롯이 이 차트에 모두 포함된다는 점입니다. 아래 이미지는 DTRA(가해 Net으로 설정)와 RTSA(기본적으로 피해 Net으로 설정)의 두 Net을 누화 분석에 포함한 예를 보여줍니다. 특정 종단 유형은 활성화되지 않은 상태입니다.

누화 결과 – 종단 없음

PCB로 크로스 프로빙

설계의 레이아웃 후 신호 무결성 분석을 수행했다면, 선택한 파형에서 PCB로 크로스 프로빙할 수 있습니다.

크로스 프로빙하려면 원하는 파형 이름을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 Cross Probe to <DocumentName>.PcbDoc 명령을 선택합니다. PCB 문서가 활성화되고 분석한 Net의 해당 핀이 강조 표시됩니다. 이때도 Preferences 대화 상자의 시스템 – 탐색 페이지에 정의된 Highlight Methods에 따라 강조 표시됩니다.

PCB로 크로스 프로빙하는 예. HB19 Net에 연결된 HDR3 컴포넌트의 Pad 19가 강조 표시되어 있습니다.

결과 분석 후

결과를 분석한 후에는 예를 들어 다양한 종단을 적용하여 선택한 Net의 링잉을 줄여볼 수 있습니다. 원하는 결과를 얻을 때까지 회로나 PCB를 수정하고 Signal 무결성 분석을 다시 실행해야 할 수도 있습니다.

이후 다른 Net에 대해 반사 및 누화 분석을 실행하면 결과는 동일한 시뮬레이션 데이터 파일에 추가되며, 새 차트(SDF 문서 하단의 탭)로 표시됩니다.